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决定无线测试系统未来的三个趋势

2013-05-04 09:32
络遇
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  趋势3:缩短测试时间的压力增大

  2009年,由于很多无线产品的市场将会紧缩,我们会发现降低测试成本的压力会持续增大。事实上,由于减低生产测试成本和缩短RFIC面世时间这两个需求的共同作用,缩短测试时间变得更加重要。

  用户需求以最明显的方式显示了缩短测试时间的必要性。不管产品是WLAN设备、蜂窝手机、抑或是TPMS(车胎压力监测)收发器,工程师不断发现新的缩短整体测试时间的方法。在很多方面,对于材料成本低的产品,缩短测试时间具有当然的必要性。随着材料成本的降低,生产测试时间实际上成为产品COGS(产品和服务成本)的主导因素之一。在RF测试领域,测量技术的两个变化也表明许多厂商都面临缩短测试时间的需要。

  首先,我们已发现,RF矢量信号发生器和分析仪系统性地转向采用基于VCO(压控振荡器)的合成器,而非采用传统的YIG元件。尽管基于YIG的合成器一直具有较好的相位噪声特性,但基于VCO的合成器具有更快的调谐速度。由于基于VCO的产品(如NI PXIe-5663 RF矢量信号分析仪和NI PXIe-5673 RF矢量信号发生器)调谐速度高于基于YIG的同类元件,所以可以更快地进行多频带的RF测量。

  需要更短测量时间的第二个标志是现在越来越多的RF矢量信号分析仪中开始增加“快速测量模式”选项。例如,很多用于蜂窝设备的分析仪提供“快速ACP”模式,在该模式下对邻信道功率(ACP)等特性的测量是在时域而非频域进行的。尽管用户通常要牺牲动态频率,但这个选项可以使工程师在速度和精度间做出选择。

  对降低测量时间的重视,意味着工程师们必须找到更高效的方式来测试无线设备。某些情况下,这就表示要采用并行测试方法来提高仪器的利用率。在另外一些情况下,这表示RF分析仪必须以前所未有的高速进行测量。幸运的是,软件定义的PXI仪器的优势之一就是PXI控制器高速的测试速度。如图2所示,50MHz频率范围内PXI RF矢量信号分析仪(NI PXIe-5663)的测量时间取决于系统中所用CPU。因此,实际上只需使用更快的CPU就能缩短测量时间。例如,用一台100kHz RBW时,只需将AMD Turon CPU升级为最新的Intel Core 2 Duo,就可以将50MHz频率范围频谱测量时间从3.3毫秒降低到2.1毫秒。因此,通过在将来采用更快的CPU,使用软件定义的测量系统的工程师们就可以切实改善测量速度。

  尽管仪器测量速度很重要,但这并不是影响自动测试系统总体测量时间的唯一因素。在很多情况下,测试代码的效率也会对测试时间有很大影响。我们已看到很多用户使用如LabVIEW和NI Teststand测试执行程序这样的软件工具,以便能利用PXI仪器和传统的台式仪器将测试自动化。使用这两种工具时,遵守良好的编程习惯经常可以大大改善测试时间。

  无论2009年无线市场怎样变化,这三个重要趋势将继续使RF仪器领域发生改变。随着无线产品集成度的提高、新标准的出现和缩短测试时间的压力的增大,RF仪器也在不断改变。因此,现在的RF矢量信号发生器和分析仪不仅比过去的仪器更加灵活,而且还可以达到前所未有的测量速度。由于人们对快速和灵活的测量工作有天然的需求,我们不禁畅想:软件定义的RF虚拟仪器或许将成为未来的潮流。

 

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